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[发明专利]校正方法、电子元件的质量检查方法及特性测量系统-CN02151842.4有效
发明人：神谷岳 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2002-12-09 - 公布日： 2004-04-21 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：与参考测量系统不精确一致的实际测量结果被校正到与参考测量系统的测量结果相同的级别上。在参考测量系统和实际测量系统分别测量校正数据获得样本的电学特性以后，获得了实际测量系统的测量结果与参考测量系统的测量结果之间的关系等式。这样，通过将实际测量系统测量的目标电子元件的电学特性代入到关系式中进行计算，目标电子元件的电学特性就能够被校正为假定由参考测量系统所获得的电学特性。
校正方法电子元件质量检查特性测量系统

[发明专利]用于去涂层器的冷却系统和方法-CN201980059503.7有效
发明人： J·Y·孙;E·L·劳赫 -专利权人：诺维尔里斯公司
申请日： 2019-09-12 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： F27D9/00 文献下载
摘要：一种用于去涂层系统的冷却系统包括传感器、控制装置以及与传感器和控制装置通信地耦合的控制器。传感器被配置为测量去涂层系统中的冷却系统的特性，控制装置控制冷却系统的特性，并且控制器被配置为基于去涂层系统内的测量的温度或测量的特性中的至少一者来调节控制装置以调节冷却系统的特性。一种控制去涂层系统的温度的方法包括测量去涂层系统的一件设备内的温度以及测量去涂层系统的该件设备中的冷却系统的特性。该方法包括基于测量的温度或测量的特性中的至少一者来控制冷却系统以调节特性。
用于涂层冷却系统方法

[发明专利]一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置及测量方法-CN201910004843.1在审
发明人：王仕东;顾宝珊;杨培燕;赵皓琦;邹卫武;牟铭 -专利权人：新冶高科技集团有限公司
申请日： 2019-01-03 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置及测量方法，属于石墨烯薄电热特性测量技术领域，解决了现有测量装置难以精确测量辐射传热占比的问题。本发明的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置，包括电气控制系统、测试系统和数据收集与处理系统；电气控制系统用于输出恒电流或者恒电压；测试系统用于获取石墨烯薄膜层试样的电流、电压及温度信息，测试系统包括电热特性测温室，电热特性测温室设有热电偶；数据收集与处理系统用于收集测试系统获取的电流、电压及温度信息并进行处理，得到石墨烯薄膜电热材料的电热特性数据。本发明实现了石墨烯薄电热特性的精确测量。
电热特性测试系统电热材料测量石墨测量薄膜电气控制系统处理系统数据收集温度信息测温室石墨烯测量技术领域石墨烯薄膜层石墨烯薄膜测量装置辐射传热恒电流恒电压热电偶输出

[发明专利]一种直立式火星飞行器单旋翼系统升阻特性测量装置-CN201910906824.8有效
发明人：全齐全;赵鹏越;陈水添;唐德威;邓宗全;朱凯杰;吕艺轩 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2019-09-24 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： B64F5/60 文献下载
摘要：一种直立式火星飞行器单旋翼系统升阻特性测量装置，本发明涉及一种测量装置，本发明的目的是提供一种直立式火星飞行器单旋翼系统升阻特性测量装置，以解决常规地球单旋翼系统升阻特性测量装置难以提供充足的飞行转速高精度测量升阻特性的问题它包括旋翼模块、动力模块和测量模块；旋翼模块、动力模块和测量模块沿旋翼系统旋转轴方向由上至下依次固定连接。本发明用于飞行器单旋翼系统升阻特性测量领域。
一种立式火星飞行器单旋翼系统特性测量装置

[发明专利]用于工业过程控制和测量系统的诊断-CN02809847.1有效
发明人：埃尔文·埃里尤雷克;戴尔·W·鲍格森;马尔克思·佩鲁索;格雷戈里·H·罗姆;韦斯顿·T·罗珀 -专利权人：罗斯蒙德公司
申请日： 2002-05-08 - 公布日： 2004-10-06 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：现场设备(20，200)包括诊断电路(36)，所述的诊断电路(36)适合于测量与过程控制和测量系统(10)相关的特性。该测量的特性用来提供表示过程控制和测量系统(10)的条件的诊断输出。可以将测量的特性提供给诊断模块，该诊断的模块依据测量的特性进行操作，以便预测或者建模过程控制和测量系统(10)的条件。
用于工业过程控制测量系统诊断

[实用新型]一种用于石墨烯薄膜电热材料电热特性的测量装置-CN201920007404.1有效
发明人：王仕东;顾宝珊;杨培燕;赵皓琦;邹卫武;牟铭 -专利权人：新冶高科技集团有限公司
申请日： 2019-01-03 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于石墨烯薄膜电热材料电热特性的测量装置，属于石墨烯薄电热特性测量技术领域，解决了现有测量装置难以精确测量辐射传热占比的问题。本实用新型的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置，包括电气控制系统、测试系统和数据收集与处理系统；电气控制系统用于输出恒电流或者恒电压；测试系统用于获取石墨烯薄膜层试样的电流、电压及温度信息，测试系统包括电热特性测温室，电热特性测温室设有热电偶；数据收集与处理系统用于收集测试系统获取的电流、电压及温度信息并进行处理，得到石墨烯薄膜电热材料的电热特性数据。本实用新型实现了石墨烯薄电热特性的精确测量。
电热特性测试系统电热材料本实用新型石墨烯薄膜测量装置电气控制系统处理系统数据收集温度信息测温室石墨烯测量测量技术领域石墨烯薄膜层测量石墨辐射传热恒电流恒电压热电偶薄膜输出

[发明专利]一种用于测量测控波形发射系统频率特性的系统-CN201910772855.9在审
发明人：赵寰;于治楼;刘强 -专利权人：山东浪潮人工智能研究院有限公司
申请日： 2019-08-21 - 公布日： 2019-11-15 - 主分类号： H04B17/15 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测量测控波形发射系统频率特性的系统，属于数字信号处理技术领域。本发明的用于测量测控波形发射系统频率特性的系统包括信号功率测量装置和信号功率测量结果传输装置，所述信号功率测量装置与信号功率测量结果传输装置相连接，信号功率测量结果传输装置与测控波形发射系统的主控制器相连接该发明的用于测量测控波形发射系统频率特性的系统有效的避免测控波形发射系统的频率特性的非平坦性，具有很好的推广应用价值。
信号功率测量发射系统测控频率特性结果传输测量数字信号处理技术主控制器平坦性

[发明专利]一种研究有限空间火灾特性实验系统-CN201811274311.1在审
发明人：陈兵;时训先;陆守香;张世奇;黎昌海 -专利权人：陈兵;时训先;陆守香;张世奇;黎昌海
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： G01N31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种研究有限空间火灾特性实验系统，包括模型舱、燃料控制系统和测量系统，所述的模型舱内设有燃料控制系统和测量系统，所述模型舱的顶棚拐角处设有水平开口，所述的模型舱用于模拟顶部具有开口的船舱；所述的燃料控制系统用于提供燃料、维持燃料的液面高度并实时测量燃料池内液位高度；所述测量系统包括燃料质量变化测量模块、气体浓度测量模块、温度测量模块和烟气动力测量模块，所述测量系统可测量舱室内火灾特性参数。本发明可通过改变开口的尺寸和位置，全面的测量有限空间内火灾特性参数及烟气流动，对于研究有限空间火灾特性具有重要意义。
测量系统燃料控制系统空间火灾特性实验燃料开口气体浓度测量温度测量模块测量模块动力测量火灾特性实时测量室内火灾水平开口特性参数烟气流动质量变化重要意义拐角处可测量燃料池顶棚船舱内液烟气液面研究测量

[发明专利]天线特性测量系统和天线特性测量方法-CN201110268084.3无效
发明人：宫田邦行 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2012-03-14 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明涉及天线特性测量系统和天线特性测量方法。提供了一种天线特性测量系统，其包括：测量点扫描器，其用于对测量点进行扫描；天线增益测量装置，其测量受测天线在多个测量点处的天线增益，确定多个测量点中的基准点，并且求得基准点处的天线增益与除基准点以外的多个测量点处的各个天线增益之间的天线增益差分值；以及天线特性测量装置，其测量受测天线在基准点处的基准天线特性，并且通过利用各个差分值校正基准天线特性，以求得受测天线在基准点以外的多个测量点中的各个测量点处的天线特性。
天线特性测量系统测量方法

[发明专利]导弹对接检测一体化平台-CN201611158485.2有效
发明人：刘松凯;徐志刚;刘勇;贺云;徐永利;王军义;白鑫林 -专利权人：中国科学院沈阳自动化研究所
申请日： 2016-12-15 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： F42B33/00 文献下载
摘要：本发明涉及导弹生产领域，具体地说是一种导弹对接检测一体化平台，包括支撑平台、自动传输机构、对接调整托架、挡停机构、质量特性测量系统、几何特性测量系统和图像采集系统，其中自动传输机构安装在支撑平台上，对接调整托架通过自动传输机构驱动移动，在支撑平台一端设有几何特性测量系统，在支撑平台的前后两端均设有图像采集系统，在支撑平台内部设有挡停机构和质量特性测量系统，所述质量特性测量系统设有测量托架、测量传感器和可升降的主架体，测量托架可升降地设置于所述主架体上，导弹产品通过所述测量托架支撑，所述主架体在导弹产品测量质量时落下与测量传感器接触。
支撑平台质量特性测量自动传输机构测量托架主架体导弹图像采集系统测量传感器一体化平台测量系统调整托架几何特性检测产品测量高度集成可升降地生产效率导弹舱可升降落下驱动移动支撑环节

[发明专利]材料特性测量系统-CN202310395336.1在审
发明人：列昂尼德·伊万诺维奇·列维琴科;维亚切斯拉夫·瓦迪莫维奇·加卢什科夫 -专利权人：科技域有限责任公司
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明涉及通过设计材料特性测量系统对材料特性研究分析，系统包括用于测量传输测试材料特性的设备，该设备包含带有至少一个测量测试介质特性发射器的电子板，收发器和外壳中的电源，以及通过最优为0.3‑20米电缆与之连接的用于测量测试材料体内特性的远程设备，该设备包含带有至少一个用于测量测试介质性能发射器的电子板；用于测量传输测试材料特性的设备被设计为从远程设备获取信号，并通过无线通信将所有发射器的信号传输到数字设备和/或云服务器，远程设备具有密封的外壳本发明提高了数据测量传输的准确性，特性测量设备在工作条件下的可靠性，材料属性测量系统的性能。
材料特性测量系统

[发明专利]生理特性测量系统-CN201680073995.1有效
发明人： N.L.达比;A.A.埃尔舍比你;S.N.奥斯特;B.莱思罗普;A.阿莱克索夫;F.艾德 -专利权人：英特尔公司
申请日： 2016-11-11 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明涉及生理特性测量系统。被配置成监控一个或多个生理特性的传感器组件包括可变形基底。该可变形基底包括身体侧接口。基底导电迹线与可变形基底耦合。两个或更多个生理传感器元件与可变形基底耦合。
生理特性测量系统

[实用新型]镜片特性测量系统-CN202121385806.9有效
发明人：曹原;胡强;潘永成 -专利权人：理波光电科技（无锡）有限公司
申请日： 2021-06-21 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及镜片特性测量系统，包括测量平台，测量平台上沿着X方向从左至右依次布置探测器一、调整座和单色仪，调整座上放置有标准样品；测量平台上还布置有探测器二，探测器二布置于标准样品的Y方向；调整座的结构为：包括安装于测量平台上的升降台，升降台上安装有XY角度调节台，XY角度调节台上安装有水平调节台，标准样品放置于水平调节台上；单色仪、调整座、探测器一和探测器二均与控制电脑连接；从而能够实现分光棱镜透射率和反射率的同步测量，以及分光棱镜对于入射角敏感程度、透过率均匀性的测试，并能适用于不同尺寸棱镜的测量，使用方便，有效减小了测量误差，实用性好。
镜片特性测量系统

[发明专利]一种天文光纤传输特性自动测量系统-CN201910560103.6在审
发明人：孙伟民;张英华;耿涛;闫奇;蒋航;赵闯;陈旭东;陈龙震;金夕人;王安之;王佳斌 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及光纤特性测量领域，具体涉及一种天文光纤传输特性自动测量系统。包括电源部分、测量设备部分以及数据处理器系统部分。电源部分与整个系统的各个模块连接；测量设备部分包括光源入射焦比控制系统，光纤端面检测系统以及光纤传输特性测量系统三个系统，光源入射焦比控制系统位于整个系统光路前端，光纤端面检测系统位于整个系统光路中间，光纤传输特性测量系统位于整个系统光路末端；数据处理器系统部分与测量设备部分构成传输指令与数据的互连局域网。本发明可利用控制系统可自动控制电动光阑直径与电动光阑位置，实时获得光电探测器数据的目的。并且该系统可自动完成天文光纤透射率和出射焦比的测量。
光纤传输特性焦比测量设备控制系统系统光路数据处理器系统光纤端面检测自动测量系统天文测量系统电动光阑入射光源电源光纤特性测量光电探测器传输指令模块连接三个系统实时获得自动完成透射率互连出射局域网光纤测量

[发明专利]一种基于滤光片阵列的海水固有光学特性测量系统及方法-CN202111311063.5在审
发明人：门少杰;何家浩;刘兆军;刘博涵 -专利权人：山东大学
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明属于海洋环境监测技术领域，具体涉及一种海水固有光学特性测量系统及方法。一种基于滤光片阵列的海水固有光学特性测量系统，包括出光单元、样品测量单元和探测单元；所述出光单元设置于所述样品测量单元的一端，用于向所述样品测量单元提供入射光源；所述探测单元设置于所述样品测量单元的另一端，用于探测所述样品测量单元输出的光信号；所述的样品测量单元包括两个测量管，其中一个测量管用于测量海水的衰减特性，另一个测量管用于测量海水的吸收特性。本发明提供的基于滤光片阵列的海水固有光学特性测量系统，系统结构简单，操作方便，不需要引入其他特殊光源和光谱探测仪器，显著降低了整个系统的复杂度和器件成本。
一种基于滤光阵列海水固有光学特性测量系统方法

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